Прогнозування та реалізація термоелементів на основі термометричного матеріалу Zr1-xErxNiSn
Journal Title: Вимірювальна техніка та метрологія - Year 2010, Vol 1, Issue 71
Abstract
The temperature and concentration dependencies of resistivity, thermopower and also power descriptions of Zr1-xErxNiSn semiconductor in ranges, T = 80 ¸ 380 K and x = 0 ¸ 0,50, respectively were investigated.
Authors and Affiliations
Роман Крайовський, Володимир Ромака
Keywords
Related Articles
- EP ID EP196539
- DOI -
- Views 93
- Downloads 0
НОРМАТИВНІ ВИМОГИ ЩОДО КОНТРОЛЮ ПАРАМЕТРІВ КОРОЗІЙНОГО СТАНУ ПІДЗЕМНИХ ТРУБОПРОВОДІВ
Recommendations in relation to combination in the normative document of requirements in relation to control of degree of security of underground pipelines from steel in a corrosive environment from positions of electroch...
АНАЛІЗ ЧАСТОТНИХ ХАРАКТЕРИСТИК КОРИГУВАННЯ АДИТИВНИХ ЗМІЩЕНЬ У КАЛІБРАТОРАХ НАПРУГИ ПОСТІЙНОГО СТРУМУ
It is known that in order to ensure the metrological reliability of measurement industrial means, operative control of their metrological parameters in operating conditions and in real time is necessary to ensure metrolo...
КОНТРОЛЬ ТЕМПЕРАТУРИ В УСТАНОВКАХ РЕАКТИВНОГО ІОННО-ПЛАЗМОВОГО НАПИЛЕННЯ З ВИКОРИСТАННЯМ ТЕРМОМЕТРА ВИПРОМІНЕННЯ
The process of creation of elements of microelectronics on the base of process of ion – plasma spraying process needs continuous control of lining temperature. In the article the use is offered for this thermometer of r...
Динаміка викидів забруднювальних речовин в атмосферу у Львівській області
Article contains the analysis of changes of the pollutant emissions in the atmosphere of Lviv region. Represented increasing tempos of the pollutant emissions that are caused by stationary and movable sources of pollutio...
ДОСЛІДЖЕННЯ СТРУКТУР АКТИВНИХ ІМІТАТОРІВ ОПОРУ ЯК ОСНОВИ ПРОМИСЛОВИХ КАЛІБРАТОРІВ
The ways of constructing the effective control devices of industrial mesuring means metrological characteristics based on active imitator resistance.