Аналіз шляхів підвищення скритності широкосмугових систем військового радіозв’язку
Journal Title: Збірник наукових праць Харківського національного університету Повітряних Сил - Year 2017, Vol 11, Issue 1
Abstract
Запропоновано шляхи підвищення структурної скритності сигналу OFDM, проведено оцінку потенціа-льної скритності сигналу OFDM з додатковим розширенням спектру за допомогою квазіортогональних псевдовипадкових послідовностей та методом псевдовипадкового перестроювання робочої частоти.
Експертні оцінки. Метод «Делфі» як технологія прийняття управлінських рішень
У статті аналізується необхідність та можливість використання методу експертної оцінки «Делфі» при підготовці та прийнятті управлінських рішень, можлива користь від використання методу.
Аналіз технічної можливості та розробка пристрою спряження між собою апаратури передачі даних спеціального призначення у складі зенітного ракетного озброєння, яка виконана за різними телекомунікаційними стандартами та технологіями
У статті розглядаються питання обґрунтування технічної можливості спряження між собою різ- нотипних систем телекодового зв’язку та передачі даних у складі комплексів засобів автоматизації існую- чих зразків зенітного рак...
Дослідження високоточних систем навігації літальних апаратів за наземними орієнтирами
У статті сформульовані основні вимоги до високоточної автоматичної навігації пілотованих і безпі- лотних літальних апаратів. Обґрунтовані основні недоліки використання супутникової інформації при ав- томатичній навігації...
Определение профильного сопротивления тела в аэродинамической трубе
Представлен способ определения профильного сопротивления профиля крыла в аэродинамической трубе малых дозвуковых скоростей Т-1 Харьковского национального университета Воздушных Сил. Проведен, основанный на теореме импуль...
Приклади практичного проектування цифрових обчислювальних синтезаторів сигналів на інтегральних мікросхемах
Ціль даної статті – показати на практичних прикладах проектування цифрових обчислювальних син-тезаторів (ЦОС) як на дискретних елементах, так і на інтегральних мікросхемах. Відповідно до вимог па-раметрів формованого сиг...