Behavioral modeling of stressed MOSFET

Journal Title: Zeszyty Naukowe Warszawskiej Wyższej Szkoły Informatyki - Year 2015, Vol 9, Issue 13

Abstract

In this paper piezoconductivity phenomenon in MOSFET channel is discussed and extension of drain current model with possibility of stress consideration is proposed. Analysis of obtained model combined with examination of stress components inherent in the MOSFET channel as well as distributions of specific piezoconductance coefficients on a plane of channel can show which directions of transistor channel are desirable for improvement of MOSFET performances. This model gives possibility to predict optimal transistor channel orientation, for the given stress state in MOSFET channel. Possible simplification of this model is considered. In particular, stress state and significant piezoconductance coefficient distributions on planes {100}, {110} as well as {111} are analyzed. For assumed particular cases of stress state in the channel, final models of MOSFT for considered specific planes are given.

Authors and Affiliations

Zenon Gniazdowski

Keywords

Related Articles

Numerical Coding of Nominal Data

In this paper, a novel approach for coding nominal data is proposed. For the given nominal data, a rank in a form of complex number is assigned. The proposed method does not lose any information about the attribute an...

Algorithms Using List Scheduling and Greedy Strategies for Scheduling in the Flowshop with Resource Constraints

The paper addresses the problem of scheduling in the two-stage flowshop with parallel unrelated machines and renewable resource constraints. The objective is minimization of makespan. The problem is NP-hard. Fast heurist...

Porównanie czasów wykonywania funkcji natywnych w aplikacjach mobilnych zaimplementowanych w technologiach natywnej i hybrydowej

W pracy przedstawiono zagadnienie oceny wydajności aplikacji tworzonych w modelach natywnym oraz hybrydowym. Analizę porównawczą przeprowadzono przyjmując jako kryterium czas wykonywania funkcji natywnych, takich jak np....

Hybrydowy system rekomendacji planów treningowych

Hybrydowe systemy rekomendacji łączą zalety metod stosowanych powszechnie w rekomendacji. Głównym celem tego artykułu jest przedstawienie zastosowania uczenia maszynowego do budowy hybrydowego silnika rekomendacji. Uczen...

Ontologia wiedzy ukrytej dla działu serwisowego w przedsiębiorstwie produkcyjnym

W artykule przedstawiono model ontologii wiedzy ukrytej w notacji UML dla działu serwisowego przedsiębiorstwa produkcyjnego. W pierwszej części artykułu została przeprowadzona analiza literatury przedmiotu w zakresie ont...

Download PDF file
  • EP ID EP175070
  • DOI 10.26348/znwwsi.13.103
  • Views 108
  • Downloads 0

How To Cite

Zenon Gniazdowski (2015). Behavioral modeling of stressed MOSFET. Zeszyty Naukowe Warszawskiej Wyższej Szkoły Informatyki, 9(13), 103-126. https://europub.co.uk/articles/-A-175070