FRACTAL GEOMETRIES IN LATERAL FLUX CAPACITOR DESIGN – EXPERIMENTAL RESULTS
Journal Title: Informatyka Automatyka Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska - Year 2015, Vol 5, Issue 2
Abstract
Capacitance density is increased when lateral flux structures are used in CMOS technologies compared to classic parallel-palate capacitors. Lateral-flux capacitors where designed based on three different fractal geometries. Capacitors are designed with and without special MMC metal layer available in some CMOS technologies for capacitor design. For theoretical analysis verification a special ASIC has been designed and fabricated in UMC 0.18um technology. Presented result are obtained by measurement of 5 ICs. Some capacitor structures have much higher capacitance density than classic parallel-platescapacitor without MMC layer. Few presented structures have higher capacitance density than parallel-plate capacitor made with MMC layer. Capacitors have small process parameters spread.
Authors and Affiliations
Piotr Kocanda, Andrzej Kos, Adam Gołda
Keywords
Related Articles
- EP ID EP73087
- DOI 10.5604/20830157.1159318
- Views 109
- Downloads 0
CURRENT LIMITING SWITCH OF ALTERNATIVE VOLTAGE
Based on literature study of known thyristor limiters and the modification providing of a low current switch function was presented.The proposed DC/DC inverters for control and temperature indirect independency was descr...
STEROWANIE PRĘDKOŚCIĄ WENTYLATORA PRZY UŻYCIU BEZPOŚREDNIO PROGRAMOWALNEJ MACIERZY BRAMEK (FPGA)
Artykuł przedstawia implementację sterownika DC wentylatora używając bezpośrednio programowalnej macierzy bramek - FPGA (ang. Field programmable gate array). Język VHDL (ang. Very High Speed Integrated Circuits Hardware...
PROBLEMY PROJEKTOWANIA ALGORYTMÓW AUTODIAGNOSTYKI NA POZIOMIE SYSTEMU
Artykuł opisuje problem projektowania probabilistycznego algorytmu autodiagnostyki na poziomie systemu. Głównym celem proponowanego algorytmu jest minimalizacja średniego czasu wykonania. Algorytm oparty jest na obl...
NADZÓR NAD WYPOSAŻENIEM POMIAROWYM NA PRZYKŁADZIE MIERNIKÓW NATĘŻENIA OŚWIETLENIA
Wyposażenie pomiarowe laboratorium powinno podlegać nadzorowi. Zakres tego nadzoru jestuzależniony od obszaru stosowania przyrządu pomiarowego i powinien obejmować wzorcowanie. Kluczową sprawą jest również prawidłowa eks...
DETECTION OF AIR GAPS IN COPPER-MINE CEILING BY ELECTRICAL IMPEDANCE TOMOGRAPHY
In this paper, we investigate the inverse problem for the electric field so-called copper mine problem. In general, this task assumes detection of all air gaps. Gaps are localised above ceiling in a copper mine. Such tas...