ROZWÓJ I ZASTOSOWANIE ZAAWANSOWANYCH TECHNIK MIKROSKOPII SIŁ ATOMOWYCH W DIAGNOSTYCE MATERIAŁÓW ELEKTROTECHNICZNYCH. WYBRANE ZAGADNIENIA
Journal Title: Proceedings of Electrotechnical Institute Prace Instytutu Elektrotechniki - Year 2012, Vol 59, Issue 257
Abstract
Dynamiczny rozwój inżynierii materiałowej, w której coraz liczniejszą grupę tworzą tzw. nanomateriały, wymusza stosowanie narzędzi pomiarowych pozwalających uzyskać informacje o zjawiskach i efektach obecnych w skali nanometrowej, a decydujących o właściwościach makroskopowych wytwarzanych obiektów. Mikroskopia sił atomowych (AFM) jest jedną z technik diagnostycznych umożliwiających pomiar właściwości powierzchni w skali mikrometrowej oraz nanometrowej. Realizowane za jej pomocą badania powierzchni materiałów stosowanych w elektrotechnice mogą obejmować szerokie spektrum właściwości. Uzyskiwane w ten sposób informacje pozwalają zrozumieć zależności między parametrami technologicznymi wytwarzania materiału a jego właściwościami makroskopowymi, dzięki czemu możliwe jest sterowanie procesem produkcyjnym w celu uzyskania finalnego produktu o pożądanych cechach poprzez wpłynięcie na jego nanoskopową strukturę. Niniejsza praca przedstawia rozwój oraz zastosowanie wybranych technik pomiarowych mikroskopii sił atomowych w diagnostyce właściwości mechanicznych, elektrycznych, magnetycznych i termicznych materiałów oraz struktur takich jak: azometiny, tłoczywa termoutwardzalne, polimery silikonowe, cienkie warstwy NiFe, mikrostruktury półprzewodnikowe oraz nanostruktury grafenowe. Zarejestrowane wyniki pomiarowe wykorzystano do zademonstrowania możliwości interpretacyjnych w odniesieniu do parametrów technologicznych, rezultatów innych badań lub też czynników wpływających na badaną próbkę. Do każdej grupy przykładów zastosowania określonego trybu pomiarowego, wprowadzenie stanowi zwarty opis podstaw teoretycznych oraz praktyki pomiarowej. Metody i rozwiązania opracowane przez autora zostały opisane szczegółowo, z uwagi na potencjalne trudności z uzyskaniem dostępu do alternatywnych źródeł informacji. Demonstracja szerokiego spektrum zastosowań opisanych metod diagnostycznych jest jednocześnie dowodem uniwersalności i przydatności mikroskopii sił atomowych w prowadzonych badaniach ukierunkowanych na opracowanie nowych, energooszczędnych, trwałych oraz ekologicznych materiałów do zastosowań w elektrotechnice.
Authors and Affiliations
Andrzej SIKORA
Keywords
Related Articles
- EP ID EP187771
- DOI -
- Views 51
- Downloads 0
USABILITY EVALUATION OF PEM FUEL CELL AND SUPERCAPACITORS APPLICATION IN THE EMERGENCY POWER BACKUP SYSTEM
Evaluation of FC/SC-based UPS has been done in terms of energy containers usability in the power emergency generation system. The Uninterruptible Power Supply delivers electric support for connected loads basing on hydro...
BADANIA I STATYSTYCZNA ANALIZA WIDM LIBS KORON PIETY ZE SKRZATUSZA
Przedstawiono wyniki badań koron Piety z kościoła parafialnego pw. NMP w Skrzatuszu. Jako narzędzia badacze zastosowano spektroskopię emisyjną ze wzbudzeniem laserowym (LIBS), cyfrową mikroskopię optyczną oraz statystycz...
WYZNACZANIE STRAT I SPRAWNOŚCI TRÓJFAZOWYCH SILNIKÓW INDUKCYJNYCH KLATKOWYCH – NOWE WYMAGANIA NORM
W pracy przedstawiono metodę wyznaczania strat i sprawności silników indukcyjnych klatkowych według normy polskiej PN-EN 60034-2-1:2008. Podano wymagania dotyczące dokładności przyrządów, procedurę przeprowadzania badań...
RESEARCH STUDIES ON THE EFFICIENCY OF WIND TURBINE GENERATORS
The primary objective of the research studies was to determine the impact of the air density changes on the calculation results of indicators characterizing the efficiency of a wind power plant. The equipment used for me...
WPŁYW WARUNKÓW OTOCZENIA NA WYBRANE PARAMETRY ŚWIETLNE PROMIENIOWANIA EMITOWANEGO PRZEZ NISKOCIŚNIENIOWE RTĘCIOWE LAMPY WYŁADOWCZE TYPU T5
Obecnie bardzo często stosowanymi źródłami światła są lampy fluorescencyjne. Parametry świetlne tych lamp zależne są między innymi od warunków otoczenia pracy. Większość badań prowadzonych w tej dziedzinie przez producen...