ROZWÓJ I ZASTOSOWANIE ZAAWANSOWANYCH TECHNIK MIKROSKOPII SIŁ ATOMOWYCH W DIAGNOSTYCE MATERIAŁÓW ELEKTROTECHNICZNYCH. WYBRANE ZAGADNIENIA
Journal Title: Proceedings of Electrotechnical Institute Prace Instytutu Elektrotechniki - Year 2012, Vol 59, Issue 257
Abstract
Dynamiczny rozwój inżynierii materiałowej, w której coraz liczniejszą grupę tworzą tzw. nanomateriały, wymusza stosowanie narzędzi pomiarowych pozwalających uzyskać informacje o zjawiskach i efektach obecnych w skali nanometrowej, a decydujących o właściwościach makroskopowych wytwarzanych obiektów. Mikroskopia sił atomowych (AFM) jest jedną z technik diagnostycznych umożliwiających pomiar właściwości powierzchni w skali mikrometrowej oraz nanometrowej. Realizowane za jej pomocą badania powierzchni materiałów stosowanych w elektrotechnice mogą obejmować szerokie spektrum właściwości. Uzyskiwane w ten sposób informacje pozwalają zrozumieć zależności między parametrami technologicznymi wytwarzania materiału a jego właściwościami makroskopowymi, dzięki czemu możliwe jest sterowanie procesem produkcyjnym w celu uzyskania finalnego produktu o pożądanych cechach poprzez wpłynięcie na jego nanoskopową strukturę. Niniejsza praca przedstawia rozwój oraz zastosowanie wybranych technik pomiarowych mikroskopii sił atomowych w diagnostyce właściwości mechanicznych, elektrycznych, magnetycznych i termicznych materiałów oraz struktur takich jak: azometiny, tłoczywa termoutwardzalne, polimery silikonowe, cienkie warstwy NiFe, mikrostruktury półprzewodnikowe oraz nanostruktury grafenowe. Zarejestrowane wyniki pomiarowe wykorzystano do zademonstrowania możliwości interpretacyjnych w odniesieniu do parametrów technologicznych, rezultatów innych badań lub też czynników wpływających na badaną próbkę. Do każdej grupy przykładów zastosowania określonego trybu pomiarowego, wprowadzenie stanowi zwarty opis podstaw teoretycznych oraz praktyki pomiarowej. Metody i rozwiązania opracowane przez autora zostały opisane szczegółowo, z uwagi na potencjalne trudności z uzyskaniem dostępu do alternatywnych źródeł informacji. Demonstracja szerokiego spektrum zastosowań opisanych metod diagnostycznych jest jednocześnie dowodem uniwersalności i przydatności mikroskopii sił atomowych w prowadzonych badaniach ukierunkowanych na opracowanie nowych, energooszczędnych, trwałych oraz ekologicznych materiałów do zastosowań w elektrotechnice.
Authors and Affiliations
Andrzej SIKORA
Keywords
Related Articles
- EP ID EP187771
- DOI -
- Views 56
- Downloads 0
ECOLOGICAL MAGNETIC REFRIGERATORS
The magnetocaloric effect (MCE) is a thermodynamic process in which the temperature changes of a paramagnetic material are the effect of an external magnetic field changing in cycles. The refrigeration occurs in two stag...
INFLUENCE OF SUPPLEMENTARY LIGHTING WITH HIGH PRESSURE SODIUM AND LED LAMPS ON GROWTH AND SELECTED PHYSIOLOGICAL PARAMETERS OF TOMATO TRANSPLANTS
The objective of the study was to evaluate the physiological response and growth of tomato transplants grown under different light treatment. During cultivation period (November – December), the transplants received supp...
AUTOMATIC DETECTION OF FLAME RESISTANCE IN THE STUDIES ON THE ARC DIELECTRIC
The determination of the Comparative Tracking Index (CTI) according to PN-EN 60112:2003 standard is a time-consuming process, which can last few hours. Automating of the test process in terms of conditions control, allow...
COMPARISON OF SEGMENTATION QUALITY ASSESSMENT FUNCTIONS IN CONTEXT OF COLOR IMAGE OVER-SEGMENTATION REDUCTION METHOD
The paper concerns one problem in watershed transformation: over-segmentation. It compares segmentation quality assesment functions used to assess the quality of over-segmentation reduction in images first segmented by m...
ZnO LAYERS IN APPLICATION AS TCL FOR NEW GENERATION OF SOLAR CELLS
Rapid development of photovoltaics, which may be recently observed, is transferred to a mass-production scale of PV industry. At the same time constant growth of inexpensive thin-film, flexible devices leads to their sig...