УДОСКОНАЛЕННЯ МЕТРОЛОГІЧНОГО ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ ВИРОБНИЦТВА ОПТИЧНИХ МІКРОЕЛЕМЕНТІВ З ЕЛЕКТРОННИМ ОБРОБЛЕННЯМ ПОВЕРХНІ
Journal Title: Вимірювальна техніка та метрологія - Year 2007, Vol 1, Issue 68
Abstract
The directions of development of metrological guarantee for experimental production of microoptical elements by elaboration of metrological guarantee program and application of atomic force microscopy method for measuring of roughness in nanometre range has been demonstrated.
Authors and Affiliations
Євгеній Малецький
Keywords
Related Articles
- EP ID EP203843
- DOI -
- Views 53
- Downloads 0
ЗАСТОСУВАННЯ ЕЛЕМЕНТІВ ТЕОРІЇ КІНЦЕВИХ АВТОМАТІВ ДЛЯ ДОСЛІДЖЕНЬ ДИНАМІЧНИХ ВЛАСТИВОСТЕЙ ОБЧИСЛЮВАЛЬНИХ КОМПОНЕНТІВ ВИМІРЮВАЛЬНИХ СИСТЕМ
The results of research dynamic properties of computing components of measuring systems is considered. It is shown that the dynamic properties of computing components in the presentation Mealy machine arising due to the...
МЕТОДИКА ОЦІНЮВАННЯ ЯКОСТІ ВИКОРИСТАННЯ ЕНЕРГОНОСІЇВ
Describe the appraisal metodologies quality heat utilization.
АНІЛІЗ НАПРЯМІВ РОЗВИТКУ ВИЗНАЧЕННЯ ОДИНИЦІ ТЕРМОДИНАМІЧНОЇ ТЕМПЕРАТУРИ КЕЛЬВІН
The article investigates the development unit of thermodynamic temperature determination. The ones defined by Kelvin definition of SI. The new definition of the unit of thermodynamic temperature through the Boltzmann con...
МЕТРОЛОГІЧНЕ ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ ЯКОСТІ
Perspectives of the development of production – quality metrological assurance are under consideration.
МЕТОД ПОБУДОВИ ЯДЕРНО-КВАДРУПОЛЬНОГО РЕЗОНАНСНОГО ТЕРМОМЕТРА НА ОСНОВІ ЦИФРОВИХ СИНТЕЗАТОРІВ
As part of this work were considered traditional methods of detection of nuclear quadrupole resonance, and a new approach to the development of its measuring channel. This channel is based on the digital synthesizers and...