АНАЛІЗ ПРОБЛЕМАТИКИ ТА ПЕРСПЕКТИВНИХ НАПРЯМІВ РОЗВИТКУ БЕЗКОНТАКТНОЇ ТЕРМОМЕТРІЇ
Journal Title: Вимірювальна техніка та метрологія - Year 2014, Vol 1, Issue 75
Abstract
Comparative characteristics of contact and non-contact temperature measurement devices to assess the feasibility of further development of the field of of noncontact thermometry was performed. To identify the main factors leading to reduced accuracy of pyrometry, analytical overview of the main methods and tools for non-contact temperature measurement was made.
Authors and Affiliations
Ірина Брао
ПЕРСПЕКТИВИ ЗАСТОСУВАННЯ ТЕРМОПЕРЕТВОРЮВАЧІВ НА БАЗІ ТЕРМОЧУТЛИВИХ КВАРЦОВИХ РЕЗОНАТОРІВ
Analytical review of the existing contact temperature measurement instruments, in particular temperature converters based on thermosensitive quartz resonators has realized. Also have analyzed the main influencing factors...
ЕКСПЕРИМЕНТАЛЬНІ ДОСЛІДЖЕННЯ ЗАЛЕЖНОСТІ ВИМІРЮВАНОЇ ТЕМПЕРАТУРИ ВІД ЧАСТОТИ АНТИСТОКСОВОЇ КОМПОНЕНТИ СПЕКТРА КОМБІНАЦІЙНОГО РОЗСІЮВАННЯ СВІТЛА ДЛЯ AL2O3
On the basis of Raman known at present are two ways to measure temperature. The first and most more common method of measuring temperature by Raman intensity is dependent stokes and antistokes Raman component. This metho...
АНАЛІЗ ПОХИБОК ПЕРЕТВОРЮВАЧА «АДМІТАНС - НАПРУГА» ДЛЯ ЗАСОБІВ ВИМІРЮВАННЯ ВІДНОСНИХ ПОКАЗНИКІВ ЯКОСТІ
The errors of measuring transformation are analysed "аadmittance - tension" for facilities of measuring of relative indexes of quality of products. The method of providing of the forecast errors of vectorial transformer...
ПРОБЛЕМНО-ОРІЄНТОВАНИЙ АНАЛІЗАТОР ІМПЕДАНСУ НА ОСНОВІ СУЧАСНОЇ КОМПЛЕКТУЮЧОЇ БАЗИ
In the paper practical implementation of measuring system based on integral impedance converter AD5933is described. Experimental measurements results are presented. Prospects of presented impedance converter usage in por...
CИСТЕМA ЗБАЛАНСОВАНИХ ПОКАЗНИКІВ ДЛЯ ДОСЛІДЖЕННЯ КОРОЗІЙНИХ ДЕФЕКТІВ
The balanced indexes of diagnosticating of corrosive defects on the metal surface taking into account parameters of interface layers are offered.