Geometric interpretation of a correlation
Journal Title: Zeszyty Naukowe Warszawskiej Wyższej Szkoły Informatyki - Year 2013, Vol 7, Issue 9
Abstract
The study shows that the Pearson’s coefficient of correlation is equivalent to the cosine of the angle between random variables. It was found that the information about the intensity of the relationship between variables is included in the value of the angle between random vectors. The paper proposes intuitive criteria for measuring the intensity of the relationship between random variables.
Authors and Affiliations
Zenon Gniazdowski
Zastosowanie przełączników we współczesnej infrastrukturze teleinformatycznej
Artykuł przedstawia rolę przełączników we współczesnych systemach i sieciach teleinformatycznych. W części wstępnej omówiono klasyfikację przełączników sieciowych, mechanizmy przełączania ruchu ramek ethernetowych oraz p...
Analiza wybranych narzędzi do skanowania systemów informatycznych
Skanowanie jest procesem zdalnego wykrywania hostów, serwerów, urządzeń sieciowych oraz realizowanych usług. Polega to na próbkowaniu aktywności analizowanego urządzenia sieciowego, poprzez wysyłanie do niego odpowiednio...
Symulowane wyżarzanie dla problemu harmonogramowania projektu z ograniczonymi zasobami
W artykule przedstawiony jest problem harmonogramowania projektu z ograniczonymi zasobami z kryterium minimalizacji czasu trwania przedsięwzięcia. Do rozwiązania zagadnienia stosowany jest algorytm symulowanego wyżarzani...
Badanie możliwości i ograniczeń zarządzania ruchem sieciowym z wykorzystaniem protokołu MPLS we współczesnych sieciach teleinformatycznych
W artykule przedstawiono technologię MPLS (ang. MultiProtocol Label Switching), która reprezentuje nowy poziom w rozwoju standardów wykorzystywanych w połączeniach technologii przełączania warstwy drugiej modelu odniesie...
Extension of the one-dimensional Stoney algorithm to a two-dimensional case
This article presents the extension of the one-dimensional Stoney algorithm to a two-dimensional case. The proposed extension consists in modifying the method of curvature estimation. The surface profile of the wafer bef...