LEVEL SET METHODS IN MEDICAL IMAGE PROCESSING
Journal Title: Informatyka Automatyka Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska - Year 2012, Vol 2, Issue 4
Abstract
In this paper two image processing methods for use in medical image processing based on the level set method, the Chan-Vese and the distance regulated method are described. The theoretical basics are described and the methods are applied to a set of sample CT images using MATLAB algorithms. The results are then compared.
Authors and Affiliations
Marcin Maciejewski, Wojciech Surtel
Keywords
Related Articles
- EP ID EP59414
- DOI -
- Views 103
- Downloads 0
NUMERICAL ASPECTS OF THE SECONDARY MAGNETIC FIELD MAPPING IN MAGNETIC INDUCTION TOMOGRAPHY
Magnetic Induction Tomography (MIT) belongs to the noncontact electromagnetic imaging techniques. This paper focuses on determination of a secondary magnetic field map calculated with the help of the Biot-Savart law arou...
SYNTEZA TRAJEKTORII PROGRAMOWYCH ROBOTA MANIPULACYJNEGO PRZY OGRANICZENIACH W POSTACI PRZESZKÓD
Przedstawiono metodę syntezy trajektorii ruchu robota manipulacyjnego wg stopni swobody. Konfiguracja położenia robota i przeszkód jest przybliżona półprzestrzenią ograniczoną płaszczyznami. Fakt zderzenia robota z przes...
LINEAR OVER RANGES ITERATIVE ALGORITHMS FOR IMAGE RECONSTRUCTION IN ELECTRICAL CAPACITANCE TOMOGRAPHY
The paper concerns the non-linear algorithms for image reconstruction in electrical capacitance tomography for which Jacobi matrix computation time is very long. The paper presents the idea of an iterative linearization...
PRACE BADAWCZE INSTYTUTU INFORMATYKI
W artykule przedstawiono przegląd badań naukowych prowadzonych w Instytucie Informatyki. Wskazano obszary badawcze oraz uzyskane wyniki.
HIGH TEMPERATURE ANNEALING INFLUENCE ON ELECTRIC PROPERTIES OF NANOCOMPOSITE (FeCoZr)81.8(CaF2)18.2
This paper presents results of researches on annealing influence on AC electric properties of nanocomposite (FeCoZr)x(CaF2)(100-x) with metallic phase content x = 81.8 at.% which was produced by ion-beam sputtering in ar...