ПРОБЛЕМИ МЕТРОЛОГІЧНОГО ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ КВАЛІМЕТРИЧНИХ ВИМІРЮВАНЬ
Journal Title: Вимірювальна техніка та метрологія - Year 2007, Vol 1, Issue 68
Abstract
In the article the theoretical, practical and legislative problems of metrological assurance of qualimetrical measurements are considered and analyzed. The specificity of qualimetrical measurements is considered and the methodology of metrological assurance organizing of qualimetrical measurements by using virtual product quality measures is proposed.
Authors and Affiliations
Василь Мотало
Keywords
Related Articles
- EP ID EP203971
- DOI -
- Views 53
- Downloads 0
ДОСЛІДЖЕННЯ СТРУКТУР АКТИВНИХ ІМІТАТОРІВ ОПОРУ ЯК ОСНОВИ ПРОМИСЛОВИХ КАЛІБРАТОРІВ
The ways of constructing the effective control devices of industrial mesuring means metrological characteristics based on active imitator resistance.
МЕТОДИ І ЗАСОБИ ВИМІРЮВАННЯ ТА КОМП’ЮТЕРНОГО ОПРАЦЮВАННЯ БІОСИГНАЛІВ
Information about the psychophysiological state of humans is important not only in medical practice for the diagnosis of possible diseases but is also for affective informatics, biometrics, rehabilitat...
ОПЕРАТИВНИЙ КОНТРОЛЬ ЯКОСТІ ОВОЧІВ ЗА ЕЛЕКТРИЧНИМИ ХАРАКТЕРИСТИКАМИ
Vegetables’ pollution by mercury, copper, zinc and arsenic concerning the EU standards is not permitted, whereas in Ukraine it has to be within the limits of permissible concentrations. The urgent task is t...
ДОСЛІДЖЕННЯ ВПЛИВУ НЕ ІДЕАЛЬНОСТІ ГЕОМЕТРИЧНОЇ ФОРМИ ЗРАЗКА НА РЕЗУЛЬТАТ ВИМІРЮВАННЯ ТЕМПЕРАТУРИ МЕТОДОМ КОМБІНАЦІЙНОГО РОЗСІЮВАННЯ СВІТЛА
Impact on measurement of Raman spectroscopy are not factors such as temperature fid plate and the angle between the laser and the object, as a result of changing the shape of the cross section of the reflected light on t...
УДОСКОНАЛЕННЯ МЕТРОЛОГІЧНОГО ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ ВИРОБНИЦТВА ОПТИЧНИХ МІКРОЕЛЕМЕНТІВ З ЕЛЕКТРОННИМ ОБРОБЛЕННЯМ ПОВЕРХНІ
The directions of development of metrological guarantee for experimental production of microoptical elements by elaboration of metrological guarantee program and application of atomic force microscopy method for measurin...