Прогнозування характеристик термометричного матеріалу Hf1-xLuxNiSn
Journal Title: Вимірювальна техніка та метрологія - Year 2014, Vol 1, Issue 75
Abstract
The Hf1-xLuxNiSn thermometric material was characterized by the electronic structure calculations and electron transport characteristics in the range: T80¸400 K, Lu 1.9 1020 NA ×cm-3 ( x 0.01 )-1.9 ×1021 cm-3 ( x 0.10 ). The material is sensitive to the temperature change and could be used as the basis for the sensitive thermoelectric devices.
Authors and Affiliations
Володимир Ромака, Юрій Стадник, Віталій Ромака, Роман Корж
ПОХИБКИ ПРОГНОЗУВАННЯ ЗНАЧЕННЯ ТЕМПЕРАТУРИ НЕЙРОННИМИ МЕРЕЖАМИ ЗА ІДЕАЛЬНИМ ПЕРЕХІДНИМ ПРОЦЕСОМ
The present article describes the results of the study of the prediction error of temperature values using neural networks. In the introduction, the authors point out problems that arise (come up) during the measurement...
СПЕКТРАЛЬНІ МЕТОДИ В КВАЛІМЕТРИЧНИХ ДОСЛІДЖЕННЯХ
Peculiarities of spectral method application aimed at detecting qualimetry object properties in the different frequency ranges of electro-magnetic waves are under consideration.
ІНТЕГРОВАНЕ ФОРМУВАННЯ ПОКАЗНИКІВ ВЛАСТИВОСТЕЙ ДЛЯ КВАЛІМЕТРИЧНОГО ОЦІНЮВАННЯ ПРОДУКЦІЇ
The method of forming the production property indices by dint of benchmarking, reverse engineering and quality function deployment has been suggested. It is shown that using the gained benchmarking information we could c...
ДОСЛІДЖЕННЯ ВПЛИВУ КОРЕЛЯЦІЇ РЕЗУЛЬТАТІВ СПОСТЕРЕЖЕНЬ НА НЕПЕВНІСТЬ КОЕФІЦІЄНТІВ ТА ПРОГНОЗОВАНИХ ЗНАЧЕНЬ ЛІНІЙНОЇ РЕГРЕСІЇ
In the article the results of studies of the influence of the mutual correlation of the observations to the standard uncertainty of coefficients and forecasted values of linear regression are represented. The analytical...
ВИМОГИ ДЛЯ НОРМУВАННЯ МЕТОДИК КВАЛІМЕТРИЧНОГО ОЦІНЮВАННЯ
A review of production qualimetric evaluation peculiarities as a metrological procedure is performed. It is revealed that estimation results comparison is possible only under condition of following the requirements as to...