OPTYMALIZACJA PARAMETRÓW DYSKRETYZACJI W SYSTEMACH DIAGNOSTYKI OBRAZOWEJ
Journal Title: Proceedings of Electrotechnical Institute Prace Instytutu Elektrotechniki - Year 2015, Vol 62, Issue 269
Abstract
W artykule przedstawiono model analizy, pozwalający dokonać optymalizacji parametrów dyskretyzacji obiektów obrazu. Wyznaczono graniczne wartości współczynnika zmiennych konturowych i na ich podstawie określono zakresy elementarnych przyrostów powierzchni przedziałowych. Wykorzystując parametr modelu, zaproponowano algorytm oraz dokonano oceny wartości błędów dyskretyzacji powierzchni obiektów.
Authors and Affiliations
Walenty Owieczko, Marian Gilewski
SYSTEM INFORMACYJNY O SŁONECZNYM PROMIENIOWANIU UV W IMGW-PIB
W ramach projektu badawczo-rozwojowego realizowanego w Ośrodku Aerologii IMGW-PIB opracowano system informacyjny o słonecznym promieniowaniu UV. System składa się z: • Wyświetlacza LED prezentującego informacje o prognoz...
ADAPTATION OF LIGHTING DESIGN SUPPORT PROGRAM FOR SIMULATION OF RADIATION TRANSMISSION OF HEAT
The article presents the proposal to use the program Dialux, for lighting calculations to simulate the radiative heat transfer by infrared heaters. The comparison of simulation results for simple radiation system obtaine...
KABLE NADPRZEWODNIKOWE – ANALIZA DZIAŁANIA I ZASTOSOWANIA W SIECIACH ENERGETYCZNYCH
Przeprowadzono analizę wykorzystania wysokotemperaturowych kabli nadprzewodnikowych przy przesyle energii elektrycznej. Zaprezentowano konstrukcję i wyniki badań krótkiego modelu kabla o zmierzonym prądzie krytycznym 45...
ELECTRIC DRIVE VEHICLES
Electric motor efficiency and development of modern energy storage system cause that electrical vehicles become the technical and economic substitute to gasoline cars. The generalized prospect of electrical vehicles adva...
APROKSYMACJA CHARAKTERYSTYK RDZENI MAGNETYCZNYCH
Względnie proste odwzorowanie matematyczne charakterystyk materiałów magnetycznych bywa przydatne w niektórych obliczeniach projektowych i symulacyjnych. W artykule omówiono podjęte próby uzyskania wzorów określających s...